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光譜橢偏儀SENresearch 4.0

免費(fèi)樣品檢驗(yàn) 48小時發(fā)貨 工廠直銷
100萬-200萬

產(chǎn)品規(guī)格:測量高厚度薄膜,提供最寬的光譜范圍,最高光譜分辨率等

公司所在地:重慶

產(chǎn)品庫存:現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū):全國

其他說明:

最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理,無活動部件 創(chuàng)新2C設(shè)計(jì)的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置

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最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理,無活動部件 創(chuàng)新2C設(shè)計(jì)的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置收起

品牌:
SENTECH
型號:
SENresearch 4.0
用途范圍:
測量高厚度薄膜、近紅外光譜等
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